電鏡原位納米壓痕測試系統InSEM
作者 Admin
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發布時間 15/03/15
InSEM®HT（高溫）通過在真空環境中分別獨立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡 （SEM）和聚焦離子束（FIB）工作室，或獨立的真空工作室兼容。 配有的InView軟件可幫助高級研究人員開發新的實驗?？茖W出 版文獻表明，InSEM HT結果與傳統的大規模高溫測試數據匹配良好。測試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點使InSEM HT成為材料 開發研究計劃中很有價值的設備。
產品描述 InSEM HT高溫測試系統可在真空環境中對壓頭和樣品分別獨立進行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨立真空工作室兼容。 系統 溫度可高達800°C，因而可以模擬現場極端溫度條件，以獲得可靠一致的測試數據。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經過優化，可用于 高溫測試應用，并可提供多種幾何形狀。
主要功能InForce 50驅動器，壓頭可加熱，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭樣品可升溫至800°C，采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統 InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數據采集速率和20μs時間常數 用于樣本定位的XYZ移動系統 SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數據進行同步 獨特的軟件集成壓頭校準系統，可實現快速，準確的壓頭校準 與Windows®10兼容的InView控制和數據查看軟件以及協助用戶設計實驗的方法開發功能 主要應用高溫測試硬度和模量測量（Oliver-Pharr） 連續剛度測量 高速材料性質分布 蠕變測量 應變率靈敏度 工業應用大學、研究實驗室和研究所航空航天 汽車制造業 硬涂層 核能 軍事/國防
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