電鏡原位納米壓痕測(cè)試系統(tǒng)InSEM
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發(fā)布時(shí)間 15/03/15
InSEM®HT（高溫）通過(guò)在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測(cè)量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡 （SEM）和聚焦離子束（FIB）工作室，或獨(dú)立的真空工作室兼容。 配有的InView軟件可幫助高級(jí)研究人員開(kāi)發(fā)新的實(shí)驗(yàn)。科學(xué)出 版文獻(xiàn)表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)的大規(guī)模高溫測(cè)試數(shù)據(jù)匹配良好。測(cè)試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點(diǎn)使InSEM HT成為材料 開(kāi)發(fā)研究計(jì)劃中很有價(jià)值的設(shè)備。
產(chǎn)品描述 InSEM HT高溫測(cè)試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對(duì)壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室兼容。 系統(tǒng) 溫度可高達(dá)800°C，因而可以模擬現(xiàn)場(chǎng)極端溫度條件，以獲得可靠一致的測(cè)試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過(guò)優(yōu)化，可用于 高溫測(cè)試應(yīng)用，并可提供多種幾何形狀。
主要功能InForce 50驅(qū)動(dòng)器，壓頭可加熱，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭樣品可升溫至800°C，采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統(tǒng) InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù) 用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng) SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步 獨(dú)特的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn) 與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開(kāi)發(fā)功能 主要應(yīng)用高溫測(cè)試硬度和模量測(cè)量（Oliver-Pharr） 連續(xù)剛度測(cè)量 高速材料性質(zhì)分布 蠕變測(cè)量 應(yīng)變率靈敏度 工業(yè)應(yīng)用大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所航空航天 汽車(chē)制造業(yè) 硬涂層 核能 軍事/國(guó)防
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