Nano Indenter G200是一套完整的納米力學顯微探針系統，其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學顯微鏡等。整個測試流程都是全自動的，這樣就提高了測試數據的可靠性和可重復性。

G200主要特性與技術指標

   符合 ISO 14577 標準的測量結果

   具有更大動態范圍的電磁驅動器

   具有靈活性，以及針對可重復使用或全新應用的可升級能力

   通過壓痕深度處的連續剛度測量，實現動態特性表征

   實時控制、簡便的協議開發和漂移補償

優勢

   精確的測量結果，高度的再現性，完全符合IS014577國際標準，GB／T 22458-2008國家標準。

   載荷和位移的動態測量范圍在同類產品中首屈一指

   利用連續剛度測量技術對壓入深度方向的動態力學性能進行精確的表征

應用

  半導體材料

  薄膜材料

  微機電系統

  硬質涂層

  DLC膜

  生物材料

Nano Indenter G300配備支持試樣直徑最大為12英寸的樣品臺,可對各種不同尺寸晶圓片直接進行力學性能檢測，不需要破壞晶圓片就可以獲得上面任意位置的力學性能，整個實驗過程全自動控制，避免了可能的人為因素的影響，確保每個測試都是合理、一致、精確。

優勢

   配有大樣品臺，最大樣品直徑可達300毫米

  全自動控制，避免人為因素影響測試結果

  應用范圍廣泛，升級方便

  利用連續剛度測量技術對壓入深度方向的動態力學性能進行精確的表征

  精確的測量結果，高度的再現性，完全符合IS014577國際標準，GB／T 22458-2008國家標準。

應用

  半導體材料

  微機電系統

  薄膜材料

  復合材料

  金屬材料

  陶瓷制品